Sistema X(Y)Z - metrología 3D sin contacto

Referencia STI-Micromeasure2

Plataforma X(Y)Z para laboratorio con sensor de punto o línea (área) para metrología 3D sin contacto basada en tecnología confocal cromática: medida rugosidad, microtopografía, metrología,...






Alexandre Besson
Business Unit Director
+33 5 57 10 92 84
a.besson@laser2000.fr
Solicitud de producto: Sistema X(Y)Z - metrología 3D sin contactoX



Querido Besson,

Estoy interesado en el siguiente producto: Sistema X(Y)Z - metrología 3D sin contacto


Su solicitud:

Una oferta
Información
Apelación y asesoramiento
Por favor complete al menos los campos obligatorios marcados con un *.



* Saludo:

Grado academico:

Primer nombre:

* Apellido: * Apellido:

* Nombre de la empresa: * Nombre de la empresa:

Dirección de la empresa:

* Calle: * Calle:

* Código postal: * Código postal:

* Lugar: * Lugar:


* E-Mail: * E-Mail:

* Teléfono: * Teléfono:

Texto:




* Que voyez-vous sur la photo 2?* ¿Qué ves en la imagen 2?

laserdiode laserschutzbrille laserschutzfenster leistungsmessgerät


Por favor seleccione:Por favor seleccione:    Diodo    Manómetro    Gafas de protección    Prueba de Windows   



Por favor, compruebe los campos marcados en rojo.




Su solicitud ha sido enviada exitosamente. Será contactado lo antes posible.



Alexandre_Besson.jpg


DESCRIPCIÓN DEL PRODUCTO

Plataforma X(Y)Z equipada con sensor confocal cromático de punto o de línea (área) para metrología 3D sin contacto, del fabricante STIL

La plataforma MICROMESURE 2 de nuestra representada Stil es un sistema completo de laboratorio para metrología óptica sin contacto 3D en la que un sensor confocal cromático es montado sobre una sistema de granito con posicionamiento motorizado de precisión en los ejes XZ o bien XYZ. La tecnología confocal cromática posibilita medir simultaneamente distintos materiales (incluso opacos y trasparentes) y de forma independiente de la luz ambiente. Esto permite realizar medidas de precisión (metrología 3D) de superficies (microtopografía, rugosidad, metrología de formas...) y de grosores en medios traslúcidos.

El sensor óptico puede ser:

Pinche por favor en el tipo de sensor para conocer mejor la tecnología y capacidades.

 

 

Todas las especificaciones en www.stilsa.com

Downloads - Sistema X(Y)Z - metrología 3D sin contacto

Stil_Micromesure2

Hoja datos: Micromeasure2 (metrología sin contacto)

Descargar (1.58M)
Stil_NonContactLineSensors

Hota datos: sensores de línea sin contacto

Descargar (1.5M)
Stil_NonContactPointSensors

Hota datos: sensores de punto sin contacto

Descargar (3.29M)

30 otros productos de la categoría Tecnologías de Medición