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Sistema X(Y)Z - metrología 3D sin contacto

Reference: STI-Micromeasure2

Plataforma X(Y)Z para laboratorio con sensor de punto o línea (área) para metrología 3D sin contacto basada en tecnología confocal cromática: medida rugosidad, microtopografía, metrología,...

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Sistema X(Y)Z - metrología 3D sin contacto
Plataforma X(Y)Z para laboratorio con sensor de punto o línea (área) para metrología 3D sin contacto basada en tecnología confocal cromática: medida rugosidad, microtopografía, metrología,...
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Alexandre Besson
Business Unit Director
+33 5 57 10 92 84
a.besson@laser2000.fr

Product request: Sistema X(Y)Z - metrología 3D sin contactoX

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Plataforma X(Y)Z equipada con sensor confocal cromático de punto o de línea (área) para metrología 3D sin contacto, del fabricante STIL

La plataforma MICROMESURE 2 de nuestra representada Stil es un sistema completo de laboratorio para metrología óptica sin contacto 3D en la que un sensor confocal cromático es montado sobre una sistema de granito con posicionamiento motorizado de precisión en los ejes XZ o bien XYZ. La tecnología confocal cromática posibilita medir simultaneamente distintos materiales (incluso opacos y trasparentes) y de forma independiente de la luz ambiente. Esto permite realizar medidas de precisión (metrología 3D) de superficies (microtopografía, rugosidad, metrología de formas...) y de grosores en medios traslúcidos.

El sensor óptico puede ser: