BeamR'2 es un Sistema de ranura de escaneo XY de 190 a 2500* nm
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Analizador del perfil XY escaneo BeamR'2BeamR'2 es un Sistema de ranura de escaneo XY de 190 a 2500* nm
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Los sistemas de escaneo ofrecen la mayor resolución y son adecuados para los haces más pequeños aunque para haces no gausianos los analizadores de perfil por cámara (sistemas de imagen) son la mejor elección.
Ventajas :
Aplicaciones :
Especificaciones
Longitud de onda | Detector de Si : 190 to 1150 nm |
Diámetros de haz escaneados | Detector de Si : 5 µm a 4 mm, a 2 µm en modo Knife-Edge |
Medida del diámetro de la cintura del haz | Segundo momento (4s) de diámetro según ISO 11146; Gaussian y Tophat 1/e² (13.5%) de ancho Porcentaje de pico seleccionable por el usuario |
Fuentes de medición | CW; Pulsed lasers‚ Φ µm ≥ [500/(PRR in kHz)] |
Precisión de la Resolución | 0.1 µm o 0.05% de rango escaner |
Potencia máxima y la irradiancia | 1 W Total & 0.5 mW/µm² |
Rango de ganancia | 1‚000:1 Conmutado; 4‚096:1 ADC rang |
Gráficos mostrados | X-Y Position & Perfil‚ Zoom x1 to x16 |
Tasa de actualización | ~5 Hz |
Pantalla de pase/fallo | Colores Pass/Fail seleccionables en pantalla. Ideal para QA y Producción. |
Promedios | Media de funcionamiento seleccionable por el usuario (de 1 a 8 muestras) |
Statistics | Min, Máx, Desviación, estándar media |
Perfil XY y Centroid | Datos de registro durante períodos prolongados |
Requisitos mínimos de PC | Windows, 2 GB RAM, USB 2.0/3.0 port |
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